一、步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室概述：

   本試驗(yàn)室可用于確定電子產(chǎn)品、組件、材料等在高濕、低濕、恒定濕熱、溫度循環(huán)變化、濕度表面產(chǎn)生凝露的濕熱等條件下使用和儲(chǔ)存的適應(yīng)性。

    本試驗(yàn)室采用日前合理的結(jié)構(gòu)和穩(wěn)定可靠的控制方式，使其具有外型美觀，操作簡(jiǎn)便，安全、濕濕度控制精度高，是做好低濕試驗(yàn)、恒溫恒濕試驗(yàn)、交變濕熱驗(yàn)的理想設(shè)備。

二、步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室技術(shù)參數(shù)：

1、型號(hào)：BS-B-10000C

2、內(nèi)箱尺寸（mm）：2000×2500×2000(mm)（寬×高×深）     W×H×D（mm）

外箱尺寸約（mm）：約3200×3050×2200(mm)（寬×高×深）  W×H×D（mm）（含電機(jī)高度）

3、溫度范圍：-20℃~100℃；  

4、濕度范圍：20~98%R. H；

5、溫濕度解析精度：

（1）溫度：0.1℃             （2）濕度：0.1%R.H

6、溫濕度控制精度：

（1）波動(dòng)度：溫度：≤±0.5℃    濕度：≤2%R.H

（2）均勻度：溫度：≤2℃       濕度：小于3%R.H

（3）溫偏差：±2℃             濕度偏差：≤5%R.H

7、升溫速率：升溫時(shí)間：-20℃→+100℃   全程平均≧ 2℃ /min（負(fù)載驗(yàn)收）

三、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

1. GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

2. GJB150.3A－2009            高溫試驗(yàn)方法

3. GBT 2424.5-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

4. GB/T2423.3-2008(IEC68-2-3)    試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法

5. GJB150.9A-2009               濕熱試驗(yàn)方法 

6.G/BT 2423.4-2008/IEC6008-2-30:2005試驗(yàn)Db:交變濕熱方法

7.GB/T5170.18-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備

8.GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

9.GBT 2424.6-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度 濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

10.GBT 2424.7-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A和B(帶負(fù)載)溫度試驗(yàn)箱的測(cè)量